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Soutenance de thèse de Tzila AJAMIAN (équipe SIMS)

24 octobre @ 10 h 00 min - 12 h 30 min

Tzila Ajamian, doctorante au sein de l’équipe SIMS, soutiendra sa thèse intitulée « Exploration de l’Acquisition Comprimée appliquée à la Réflectométrie » / « Exploration of Compressive Sampling for Wire Diagnosis Systems Based on Reflectometry »

jeudi 24 octobre à partir de 10h, dans l’amphi du bâtiment S sur le site de Centrale Nantes.

Jury :

  • Directeur thèse : MOUSSAOUI Said, DUPRET Antoine (CEA LIST)
  • Rapporteurs : CHABERT Marie (INP Toulouse), DEGARDIN Virginie (Institut d’électronique de microélectronique et de nanotechnologie)
  • Autres membres : CHAUX Caroline (I2M), ZHANG Qinghua (INRIA)
  • Membre invité : Olivier Henri Roux

Résumé : La réflectométrie, une technique utilisée en diagnostic filaire, permet la détection et la localisation de défauts des câbles. Alors que, les Convertisseurs Analogique-Numérique sont indispensables dans les architectures de la réflectométrie, la nécessité du respect de la condition de Shannon et le besoin d’effectuer des traitements en temps réel limitent les fréquences maximales des signaux injectés, et par conséquent réduit la précision de la localisation. Pour une première fois dans le contexte du diagnostic filaire, cette étude intègre l’échantillonnage comprimé du signal réfléchi afin d’améliorer les performances de ce système. Pour cela, en analysant les signaux multi-porteuses employés pour la réflectométrie, nous proposons les dictionnaires adaptées induisant la parcimonie. Ainsi, grâce aux techniques d’acquisition comprimée et aux encodeurs analogique adéquats, nous proposons un schéma d’échantillonnage permettant de reconstruire le réflectogramme avec une fréquence d’échantillonnage moins élevée tout en garantissant d’identifier les défauts proches.

Mots-clés : Diagnostique filaire, réflectométrie, acquisition comprimée, convertisseur analogique-numérique

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Abstract: Reflectometry, a wire diagnosis technique, allows to detect and localize electrical defects in networks efficiently. In order to achieve a very precise online diagnosis without altering the functioning of a network, reflectometry methods should use specific wideband Multi-Carrier signals, whose generation requires dedicated numerical tools. The underlying architecture of any reflectometry system for the injection of the signal requires appropriate Digital-to-Analog Converters. Yet, measuring the reflected signal should be performed using Analog-to-Digital Converters capable of reaching high sampling frequencies together with sufficient resolution. Such converter are either extremely expensive or beyond nowadays state of the art. In that respect, this study addresses a new architectural approach for designing such reflectometry systems based on Compressive Sampling method bypassing the Nyquist rate. Thus, thanks to the compressed acquisition and its analog encoder, we succeed in reconstructing the reflectogram with a lower sampling frequency and also in identifying nearby defects.

Keywords: Wire diagnosis, Compressive Sampling, analog-digital convertor.

Détails

Date :
24 octobre
Heure :
10 h 00 min - 12 h 30 min
Organisateur
LS2N

Catégories d’Évènement:
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Étiquettes Évènement :
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Lieu

ECN
École Centrale Nantes, 1 rue de la Noë
Nantes, 44321 France
+ Google Map
Site Web :
http://www.ec-nantes.fr/
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